核工業北京地質研究院分析測試研究中心采購了兩臺特殊的質譜儀，今年兩臺設備同時到貨、安裝，一臺是法國CAMECA公司的IMS 1280-HR高分辨二次離子質譜儀，另一臺是TESCAN公司的雙束聚焦離子束與飛行時間二次離子質譜聯用系統。

　　之所以采購兩臺二次離子質譜，是因為高分辨質譜儀以*的檢出限以及超高的分辨能力和精度著稱，但成像及原位分析能力較差;而聯用系統是掃描電鏡(SEM)、聚焦離子束(FIB)和飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)，三者的結合，具有SEM的二維高分辨成像和成分、結構等分析能力，結合FIB的微區分析與加工能力，實現成分和結構的三維分析;FIB與TOF-SIMS的聯用，相比于大型質譜儀具有更高的空間分辨率、更快速的成像速度、更優異的成像能力，同時操作也更簡單靈活。

        整套聯用系統可同時進行原位超輕元素、同位素分析能力，此外還可以對元素、同位素等進行二維、三維成像分析。

　　TESCAN公司在電子顯微鏡和聚焦離子束領域有多項創新，是掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯用技術、聚焦離子束與飛行時間質譜儀聯用技術以及氙等離子聚焦離子束技術的開拓者，也是行業領域的技術領導者。

　　這是國內首套雙束聚焦離子束與飛行時間二次離子質譜聯用系統，TESCAN十分重視和核工業北京地質研究院的合作，研發部的專家專程到北京進行培訓，并和中心主任郭冬發研究員、書記范光研究員等專家進行了交流。

　　TESCAN公司表示，他們將繼續跟蹤雙束聚焦離子束與飛行時間二次離子質譜聯用系統的新應用進展，同時也歡迎感興趣的用戶前來參觀和交流。

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